主变交接试验时发生放电故障的原因分析

绕组进行介损试验时的原理图，图3-b是对中压绕组进行介损试验时的原理图。两图中“K”表示因档位不正确而在调压开关动、静触头之间产生的金属间隙。当在高压绕组上进行介损试验时，会在高压绕组上施加一个电压U，此时由于高压绕组对地的电容C1和对中、低压绕组的电容C2、C3的影响，在高压绕
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