主变交接试验时发生放电故障的原因分析

生这种现象时，UK都会是U的几倍到十几倍，那么也很容就会把金属间隙K击穿而产生放电。当在低压绕组上进行介损试验时，情况基本与在高压绕组上进行介损试验时的情况基本类同，在此不再赘述。在绕组变形试验中，试验数据中曲线畸变，是由于金属间隙K的存在，使试验时电场和磁场的分布发生了
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