纳米器件处理对豌豆芽苗菜生长和品质的影响
轴底端至最新叶片生长处的高度为准；下胚轴粗用游标卡尺测量，以第1节位近子叶部为准；每盘芽苗菜按五点取样法贴近栽培纸巾表面剪取20株，用1/10 000天平称量干、鲜质量，干质量先在烘箱105 ℃下杀青30 min，然后在55 ℃下烘至恒重称量。VC的测定采用钼蓝法、可溶性蛋白含量的测定采用考马斯亮蓝G-
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